တိကျသော စမ်းသပ်မှုရလဒ်များ၊ စံသတ်မှတ်ထားသော လည်ပတ်မှုနှင့် ကိရိယာ၏ ကြာရှည်ခံသော ဝန်ဆောင်မှုသက်တမ်းကို သေချာစေရန်အတွက်၊ ဤစာရွက်စာတမ်းတွင် Leeb Hardness Tester HLN110 ၏ အဓိကလည်ပတ်မှုလုပ်ထုံးလုပ်နည်းများ၊ တပ်ဆင်ခြင်း၊ ပါဝါဖွင့်ခြင်း၊ ကန့်သတ်ချက်ချိန်ညှိခြင်းနှင့် မာကျောမှုတိုင်းတာခြင်းတို့ကို အသေးစိတ်ဖော်ပြထားပြီး အော်ပရေတာများအတွက် စံသတ်မှတ်ထားသော လည်ပတ်မှုညွှန်ကြားချက်များကို ပေးပါသည်။
တပ်ဆင်ခြင်းနှင့် ပါဝါဖွင့်ခြင်း
၁။ လျော့ရဲခြင်း သို့မဟုတ် ထိတွေ့မှုညံ့ဖျင်းခြင်းမရှိဘဲ ခိုင်မာသောချိတ်ဆက်မှုရှိကြောင်း သေချာစေရန် အဓိကယူနစ်နှင့် Leeb Hardness Tester N110 ၏ စမ်းသပ်စမ်းသပ်ကိရိယာအကြား လိုက်လျောညီထွေဖြစ်အောင် တပ်ဆင်ခြင်းကို အပြီးသတ်ပါ။
၂။ ကိရိယာ၏ ပါဝါထောက်ပံ့မှုအခြေအနေကို စစ်ဆေးပါ၊ ဘက်ထရီများကို မှန်ကန်စွာတပ်ဆင်ထားခြင်း သို့မဟုတ် ပြင်ပပါဝါထောက်ပံ့မှုကို ပုံမှန်ချိတ်ဆက်ထားကြောင်း အတည်ပြုပါ။
၃။ ကိရိယာ၏ ပါဝါဖွင့်ခလုတ်ကို နှိပ်ပါ၊ စနစ် လုံးဝစတင်ပြီး ကနဦးလည်ပတ်မှုမျက်နှာပြင်သို့ ဝင်ရောက်သည်အထိ စောင့်ပါ၊ နောက်ဆက်တွဲ ကန့်သတ်ချက် ချိန်ညှိမှုအတွက် ပြင်ဆင်ပါ။
ကန့်သတ်ချက် ဆက်တင်
၁။ ပါဝါဖွင့်ပြီးနောက် ခလုတ်ကိုနှိပ်ပါMATLနှင့်ဟာရိုparameter setting mode သို့ဝင်ရောက်ရန် key များ။
၂။ စမ်းသပ်ခြင်းလိုအပ်ချက်များအရ ပစ္စည်းအမျိုးအစားကို သတ်မှတ်ပြီး သက်ဆိုင်ရာအမျိုးအစား (ဥပမာ သံမဏိနှင့် သွန်း) ကို ရွေးချယ်ပါ။
၃။ မာကျောမှုယူနစ်ကို ချိန်ညှိပါ။ ကဲ့သို့သော စကေးများHLDနှင့်HLစမ်းသပ်မှုစံနှုန်းနှင့်ကိုက်ညီစေရန် လိုအပ်သလို ပြောင်းလဲနိုင်သည်။
၄။ တိုင်းတာချိန်များ (COUNT) နှင့် စမ်းသပ်ရန် ဦးတည်ချက် အပါအဝင် အရန် ကန့်သတ်ချက်များကို သတ်မှတ်ပါ။ ကန့်သတ်ချက်အားလုံး မှန်ကန်ကြောင်း အတည်ပြုပြီးနောက်၊ ကန့်သတ်ချက် ဆက်တင်မုဒ်မှ သိမ်းဆည်းပြီး ထွက်ပါ။ ကိရိယာသည် စမ်းသပ်ရန် အသင့်ဖြစ်နေသော အခြေအနေသို့ ပြန်ရောက်သွားပါလိမ့်မည်။
မာကျောမှုတန်ဖိုးတိုင်းတာခြင်း
၁။ စမ်းသပ်မည့် အလုပ်၏ ပြားချပ်ချပ်မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် စမ်းသပ်ကိရိယာကို ဒေါင်လိုက်ထားပါ၊ မသင့်လျော်သော ထိတွေ့မှုကြောင့် ဖြစ်ပေါ်လာသော မတိကျသော စမ်းသပ်မှုရလဒ်များကို ရှောင်ရှားရန် စောင်းခြင်းမရှိဘဲ တင်းကျပ်စွာ ထိတွေ့မှုရှိစေရန် သေချာပါစေ။
၂။ သက်ရောက်မှုကိရိယာကို အောက်ဘက်သို့ ညင်သာစွာ တွန်းပါ။
၃။ တစ်ခုတည်းသော မာကျောမှုစမ်းသပ်မှုကို ပြီးမြောက်စေရန်အတွက် စမ်းသပ်ခလုတ်ကို ညင်သာစွာနှိပ်ပါ။ ကိရိယာသည် တစ်ခုတည်းသော မာကျောမှုတန်ဖိုးကို အလိုအလျောက်ပြသပါလိမ့်မည်။
၄။ တိုင်းတာမှုများစွာကို သတ်မှတ်ထားပါက၊ ကိရိယာသည် ကြိုတင်သတ်မှတ်ထားသောအချိန်များအလိုက် စဉ်ဆက်မပြတ်စမ်းသပ်မှုများကို လုပ်ဆောင်ပြီး စမ်းသပ်မှုဒေတာတစ်ခုစီကို အလိုအလျောက် မှတ်တမ်းတင်မည်ဖြစ်သည်။
၅။ စမ်းသပ်ပြီးနောက်၊ တူရိယာသည် တစ်ခုတည်းသောတန်ဖိုးနှင့် ပျမ်းမျှတန်ဖိုးကဲ့သို့သော မာကျောမှုဒေတာကို ပြသနိုင်ပြီး အော်ပရေတာသည် ကြည့်ရှုပြီး မှတ်တမ်းတင်နိုင်သည်။
၎င်း၏ dynamic တိုင်းတာမှုနိယာမကြောင့် Leeb hardness tester သည် အထူနှင့် အလေးချိန်အချို့ရှိသော workpieces များအတွက် ပိုမိုသင့်လျော်ပါသည်။ ပါးလွှာသော သို့မဟုတ် သေးငယ်သော workpieces များအတွက် bench-top hardness testers များ၏ static တိုင်းတာမှုနိယာမကို လိုက်နာပါ။
ပို့စ်တင်ချိန်: ၂၀၂၆ ခုနှစ်၊ ဖေဖော်ဝါရီလ ၂၈ ရက်
